全文获取类型
收费全文 | 1640篇 |
免费 | 260篇 |
国内免费 | 117篇 |
专业分类
化学 | 383篇 |
晶体学 | 2篇 |
力学 | 177篇 |
综合类 | 14篇 |
数学 | 281篇 |
物理学 | 1160篇 |
出版年
2024年 | 2篇 |
2023年 | 16篇 |
2022年 | 34篇 |
2021年 | 39篇 |
2020年 | 45篇 |
2019年 | 40篇 |
2018年 | 44篇 |
2017年 | 68篇 |
2016年 | 96篇 |
2015年 | 53篇 |
2014年 | 138篇 |
2013年 | 123篇 |
2012年 | 116篇 |
2011年 | 123篇 |
2010年 | 101篇 |
2009年 | 91篇 |
2008年 | 123篇 |
2007年 | 99篇 |
2006年 | 85篇 |
2005年 | 74篇 |
2004年 | 70篇 |
2003年 | 58篇 |
2002年 | 42篇 |
2001年 | 40篇 |
2000年 | 37篇 |
1999年 | 28篇 |
1998年 | 29篇 |
1997年 | 28篇 |
1996年 | 26篇 |
1995年 | 21篇 |
1994年 | 22篇 |
1993年 | 15篇 |
1992年 | 14篇 |
1991年 | 11篇 |
1990年 | 7篇 |
1989年 | 17篇 |
1988年 | 15篇 |
1987年 | 5篇 |
1986年 | 5篇 |
1985年 | 4篇 |
1984年 | 3篇 |
1982年 | 5篇 |
1979年 | 2篇 |
1977年 | 2篇 |
1975年 | 1篇 |
排序方式: 共有2017条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
Despite significant advances in first-principles calculation methods, there is no single exchange-correlation functional which predicts the ground state of materials without an error yet. We investigated how accurately ground states of binary semiconductors are described using 16 exchange-correlation functionals (with or without van der Waals corrections). LDA, PBEsol, SCAN (with or without rVV10 correction), and PBE with D3 van der Waals correction (zero or Becke-Johnson damping) show good predicting power. The lattice constants of stable phases were slightly better described by SCAN, PBEsol, PBE+D3 (Becke-Johnson damping), and MS2. We also propose a set of functionals to double-check the stability of new materials based on the majority vote. 相似文献
2.
ZHAO Ren ZHANG Li-Chun HU Shuang-Qi 《理论物理通讯》2006,46(10)
We generalize the method that is used to study corrections to Cardy-Verlinde formula due to generalized uncertainty principle and discuss corrections to Cardy-Verlinde formula due to generalized uncertainty principle in (anti)-de Sitter space. Because in de Sitter black hole spacetime the radiation temperature of the black hole horizon is different from the one of the cosmological horizon, this spacetime is a thermodynamical non-equilibrium spacetime. 相似文献
3.
4.
5.
6.
一种改进的计算探测器校正因子的相关抽样方法 总被引:1,自引:0,他引:1
对于小尺寸探测器处于大块介质的情形, 在探测器的校正因子的Monte Carlo模拟中, 存在两个难题: 一是由于探测器尺寸很小粒子难以到达探测器并发生碰撞; 二是两个随机变量比值难以达到要求精度. 本文使用经过改进的粒子碰撞自动重要抽样方法, 再结合相关抽样方法, 解决了这两个难题, 并在MCNP-4C程序平台上加以实现. 除了粒子碰撞自动重要抽样以外, 还选用了其他3种方法: 直接模拟、区域分裂、强迫碰撞+Dxtran球分别与相关抽样方法结合, 对一个简化的探测器校正因子计算模型进行了计算. 实际计算结果表明, 相关抽样方法无论与哪种方法结合, 都起到了提高相关量计算效率的作用; 而它与粒子碰撞自动重要抽样结合, 比其他方法具有明显的优越性. 相似文献
7.
8.
本文提出了同位网格上的不可压流动压力修正算法,其中压力修正值由压力方程所求得。设计了分离式的动量插值方法,有效地避免了松弛因子对计算结果的影响和不合理压力场的出现。提出了构造压力方程的反欠松弛方法,该方法建立了稳定和加速计算收敛的一般途径。对经典算例的计算得到了满意的结果。 相似文献
9.
10.
《Surface and interface analysis : SIA》2004,36(9):1304-1313
For rough heterogeneous samples, the contrast observed in XPS images may result from both changes in elemental or chemical composition and sample topography. Background image acquisition and subtraction are frequently utilized to minimize topographical effects so that images represent concentration variations in the sample. This procedure may significantly increase the data acquisition time. Multivariate statistical methods can assist in resolving topographical and chemical information from multispectral XPS images. Principal component analysis (PCA) is one method for identification of the highest correlation/variation between the images. Topography, which is common to all of the images, will be resolved in the first most significant component. The score of this component contains spatial information about the topography of the surface, whereas the loading is a quantitative representation of the topography contribution to each elemental/chemical image. The simple‐to‐use self‐modelling mixture analysis (Simplisma) method is a pure variable method that searches for the source of most differences in the data and therefore has the potential to distinguish between chemical and topographical phases in images. The mathematical background correction scheme is developed and validated by comparing results to the experimental background correction for samples with differing degrees of topography. Copyright © 2004 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献